![]() | 微量分析天平XPE26量程:22g,精度:1ug,校準方式:內部校準 |
![]() | 微量分析天平XPE26DR量程及可讀性:5.1g/2ug,22g/0.01mg,校準方式:內部校準 |
![]() | 微量分析天平XPE56量程:52g,精度:1ug,校準方式:內部校準。 |
![]() | XP6U微量天平量程及可讀性:6.1g/0.1ug,校準方式:內部校準。 |
![]() | XP56DR微量天平量程及可讀性:11g/2ug,52g/0.01mg,校準方式:內部校準。 |
![]() | XP26DR微量天平量程及可讀性:5.1g/2ug,22g/0.01mg,校準方式:內部校準。 |
![]() | XP2U微量天平量程及可讀性: 2.1g/0.1ug,校準方式:內部校準。 |
![]() | 半微量電子天平PWN225DZH量程:82/220g ,可讀性:0.01/0.1mg ,校準方式:內部校準 |
![]() | 半微量電子天平PWN85ZH量程:82g ,可讀性:0.01mg ,校準方式:內部校準 |
![]() | 半微量電子天平PWN125DZH量程:50/120g ,可讀性:0.01/0.1mg ,校準方式:內部校準 |