梅特勒XP504DR分析天平產品介紹：
憑借 Excellence Plus XP，梅特勒-托利多在分析天平領域樹立了另一個里程碑。 領先的創(chuàng)新帶來前所未有的稱重性能，并在人員、樣品和數據安全性方面設定了新標準。
梅特勒XP504DR分析天平技術參數：
規(guī)格 - XP504DR 分析天平
| 最大稱量范圍 | 101 g / 520 g |
| 可讀性 | 0.1 mg / 1 mg |
| Minimum weigh (typical acc. USP) | 120 mg |
| Minimum weigh (typical, U=1%, sd=2) | 8 mg |
| 去皮范圍 | 0...520 g |
| 重復性 | 0.1 - 0.6 mg |
| 線性 | 0.5 mg |
| 偏心負載 | 0.5 mg |
| 內部砝碼校準 | proFACT, fully automatic time- and temperature-controlled adjustment |
| 外部砝碼校準 | custom weights |
| 靈敏度精度 | 4.0*10^-6 ?Rnt |
| Sensitivity offset | 4x10-6·Rnt |
| 靈敏度（溫度漂移） | 1*10^-6/°C ?Rnt |
| 靈敏度穩(wěn)定性 | 1*10^-6/a ?Rnt |
| 穩(wěn)定時間 | 1.5 s |
| 接口 | RS-232C |
| 尺寸 | 263x487x322 mm (WxDxH) |
| 防風罩可用高度 | 235 mm |
| 秤盤尺寸 | 78*73 mm |
| 物料號 (s) | 11106045 |
| 商業(yè)名稱 | 11106045 |
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