紫外可見分光光度計UV2400舜宇恒平產(chǎn)品簡介:
UV2400比例監(jiān)測雙光束紫外-可見分光光度計,采用新型的光學(xué)結(jié)構(gòu)及C-T式單色器以及優(yōu)質(zhì)的電路系統(tǒng)設(shè)計,使儀器具有波長精度高,重復(fù)性好,雜散光低及長時間的穩(wěn)定性和高性價比,可滿足各種層次的分析應(yīng)用所需,若配上專用軟件,可與PC連接,實(shí)現(xiàn)更多的測試功能包括數(shù)據(jù)海量存貯。
紫外可見分光光度計UV2400舜宇恒平產(chǎn)品功能:
1.自動扣除比色皿誤差
2.自動波長:鍵盤輸入小間隔為0.1nm。
3.光度測量:定波長測試透過率、吸光度和系數(shù)吸光度及能量的測量。
4.定量測定:單波長法,1-3階線性標(biāo)準(zhǔn)曲線擬合,多可建立8個標(biāo)樣點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)曲線。
5.多波長測定:具有可設(shè)5個波長的設(shè)定,對同一樣品連續(xù)測定。
紫外可見分光光度計UV2400舜宇恒平產(chǎn)品特點(diǎn):
1.自動八聯(lián)池:一次可放7個樣品大大提高測樣分析速度。
2.自動扣除比色皿誤差:使測光準(zhǔn)確度(被測樣濃度較低時)更為準(zhǔn)確。
3.持久的穩(wěn)定性:比例監(jiān)測雙光束光學(xué)系統(tǒng),電路系統(tǒng),確保儀器長時間的穩(wěn)定。
4.超低的雜散光:先進(jìn)的光學(xué)系統(tǒng)、低噪聲的電路系統(tǒng)和優(yōu)質(zhì)的光學(xué)元器件保證儀器具有超低的雜散光,使高濃度樣品測試更準(zhǔn)確。
5.顯示及操作:人性化設(shè)計,大屏幕液晶顯示器顯示數(shù)據(jù)、圖形、更直觀,用戶操作簡單方便。
6.燈源更換簡單方便:法蘭盤座式氘燈結(jié)構(gòu),更換氘燈無需專用工具,免去換燈時光路調(diào)試步驟,使儀器調(diào)試、維護(hù)更加簡單。
7.豐富的可選附件:多種附件可供選擇,儀器測量功能更加廣泛。
8.具有USB接口:可選配UV-Solution工作站軟件,可進(jìn)行多種測試(光譜掃描、導(dǎo)數(shù)光譜)等功能。
UV-Solution軟件功能介紹(選配)
1.光度測量:定波長條件下,對樣品的透過率T,吸光度A進(jìn)行測量,可導(dǎo)出數(shù)據(jù)為Execl文件供用戶編輯。
2.光譜掃描(波長掃描):在有效波長范圍內(nèi),可按0.1、0.5、1、2、5nm設(shè)定掃描間隔,對樣品的吸光度A、透過率或者能量進(jìn)行掃描,并對圖譜進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,如圖譜縮放、平滑、四則運(yùn)算、坐標(biāo)調(diào)整、峰/谷自動檢測、1~4階導(dǎo)數(shù)光譜等,可打印記錄為標(biāo)準(zhǔn)報表,可導(dǎo)出數(shù)據(jù)為Execl文件供用戶編輯,可導(dǎo)出圖譜為bmp圖片文件。
3.時間掃描(動力學(xué)測試):在特定波長下對樣品的吸光度A或透過率T進(jìn)行時間掃描,采樣時間間隔有0.2、0.5、1.0、2.0、5.0秒可選擇。可打印記錄為標(biāo)準(zhǔn)報表,可導(dǎo)出數(shù)據(jù)為Execl文件供用戶編輯,可導(dǎo)出圖譜為bmp圖片文件。
4.定量測量:可進(jìn)行直線、二次曲線、三階曲線、折線等標(biāo)準(zhǔn)曲線及設(shè)定曲線參數(shù)測試,多可建立15個標(biāo)樣點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)曲線,可選擇單波長,雙波長或三波長下測量,可導(dǎo)出數(shù)據(jù)為Execl文件供用戶編輯。
5.DNA/蛋白質(zhì)分析:快速測量DNA樣品在特定波長下的吸光度,并自動計算出DAN/蛋白質(zhì)的濃度及DNA Ratio,內(nèi)建兩種標(biāo)準(zhǔn)測試方法,也可擴(kuò)展應(yīng)用,任意設(shè)定其它波長和因子進(jìn)行測量和計算,可打印記錄為標(biāo)準(zhǔn)報表,可導(dǎo)出數(shù)據(jù)為Execl文件供用戶編輯。
6.多波長測定:可在多個波長條件下測試樣品透過率T,吸光度A,多可設(shè)置8個波長點(diǎn),可打印記錄為標(biāo)準(zhǔn)報表,可導(dǎo)出數(shù)據(jù)為Execl文件供用戶編輯。
型 號 | UV2400 |
光學(xué)系統(tǒng) | 比例監(jiān)測雙光束 |
光譜帶寬 | 1.8nm |
波長范圍 | 190 ~ 1100nm |
波長大允許誤差 | ± 0.5nm |
波長重復(fù)性 | ≤ 0.2nm |
測量范圍 | T:0 ~ 200.00%T A:-0.301 ~ 4.000Abs |
透射比大允許誤差 | ± 0.3%T |
透射比重復(fù)性 | ≤ 0.1%T |
雜散光 | ≤ 0.05%T(220nm 、 360nm 處 ) |
穩(wěn)定性 / 噪聲 | 100%(T) 線噪聲≤ 0.1%(T) 0%(T) 線噪聲≤ 0.05%(T) |
基線平直度 | ± 0.002A |
基線漂移 | ≤ 0.001A/h (500nm 處 ) |
顯示器 | 128 × 64 大屏幕液晶顯示 |
外形尺寸 | 540 × 430 × 220(mm) |
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