精科上分紫外可見分光光度計UV757

紫外可見分光光度計UV757精科上分產(chǎn)品介紹：

757紫外可見分光光度計可以滿足日常分析到科學(xué)研究等廣泛的應(yīng)用需求。儀器采用合理的光路系統(tǒng)、低噪聲的電路設(shè)計，具有出色的可靠性和穩(wěn)定性。

紫外可見分光光度計UV757精科上分主要特點:

● 采用先進的光、機、電設(shè)計,具有超群的性能和性價比。

● 采用7英寸觸摸液晶顯示器，操作靈活方便。

● 采用比例雙光束結(jié)構(gòu),，并配置高性能“閃耀全息光柵”的低雜散光高分辨率的單色器, 具有出眾的光學(xué)以及測量準(zhǔn)確性、重現(xiàn)性和穩(wěn)定性。

● 獨特的自動調(diào)整“0”調(diào)整“100”，八聯(lián)樣品聯(lián)動。

● 具有全波段掃描、分波段掃描、動力學(xué)時間掃描、以及GOTOλ、線性回歸、濃度直讀、峰谷檢測燈各種高級功能。

● 具有USB接口，可直接與PC機交互，強化了儀器的檢測數(shù)據(jù)、掃描圖譜等處理功能，實現(xiàn)了測試文檔的海量儲存，也為用戶二次開發(fā)提供了便利。

● 先進的斷電保護措施，可記憶測試數(shù)據(jù)、掃描圖譜、回歸方程以及儀器修正值等，實現(xiàn)了開機快速初始化進入測試狀態(tài)。

● 儀器采用高能量的長壽命法蘭盤定位氘燈，當(dāng)儀器氘燈必須更換時，只需卸裝兩枚法蘭盤定位螺絲，即可保證燈源處于最佳位置，無須繁瑣的光路調(diào)整。

● 選配熱敏繪圖儀，可進行數(shù)據(jù)打印、光譜掃描（限S款）、定波長時間掃描、線性回歸等曲線的繪制。

紫外可見分光光度計UV757精科上分技術(shù)指標(biāo)：

● 波長范圍：190nm～1100nm

● 波長最大允許誤差：±0.5nm

● 波長重復(fù)性：≤0.2nm

● 光譜帶寬：2nm

● 雜散光：≤0.3%（T）（在220nm處，以Nal測定 在360nm處，以NaNO2測定）

● 透射比范圍：0.0%（T）～200.0% (T）

● 吸光度范圍：-0.301（A）～4.000(A)

● 透射比最大允許誤差：±0.3%（T）

● 透射比重復(fù)性：≤0.15%（T）

● 基線平直度：±0.002（A）（200nm～1090nm）

● 漂移：≤0.0009（A/0.5h）(開機2h后,250nm和500nm處)

● 噪聲：100%噪聲≤0.5%（T） 0%噪聲≤0.2%(T)

● 穩(wěn)定性：≤0.004A/30min

其它

電源：AC220V±22V 50Hz±1Hz

額定功率：200W

選配

熱敏繪圖打印機

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