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上海上光彼愛姆15J測量顯微鏡
一、上海上光彼愛姆15J測量顯微鏡用途
15J測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣，主要用途如下：
1.直角坐標中測定長度，例如測定孔距、基面距離、刻線距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑等等。
2.轉動度盤測定角度，例如對刻度盤、樣板、量規(guī)、鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3.用作觀察，以比較法檢查工作表面粗糙度，鑒定冶金工業(yè)的礦石標本，檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。
二、上海上光彼愛姆15J測量顯微鏡技術規(guī)格
1.光學系統(tǒng)規(guī)格
| 物 鏡 | 目 鏡 | 顯微鏡 放大倍數 | 工作距離 (mm) | 視場直徑(mm) | ||
| 放大倍數 | 焦距 (mm) | 放大倍數 | 焦距 (mm) | |||
| 2.5X/0.08 | 43.40 | 10X | 25.00 | 25X | 58.84 | 5.6 |
| 10X/0.25 | 17.13 | 100X | 7.81 | 1.4 | ||
2.測量工作臺讀數裝置主要規(guī)格
X軸移動測量范圍：50mm
Y軸移動測量范圍：13mm
測微器分度值：0.01mm
測量臺轉動范圍：不限
測量臺刻度盤分度范圍：0°～360°
測量臺刻度盤之分度值：1°
測量臺刻度盤游讀數示值：6′
3.測量精度：
儀器示值誤差：±(4+L/15 )um
儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統(tǒng)誤差。
注：測量地點溫度變化(20±3)℃
L-被測件長度(mm)4.儀器之主要尺寸：
測量臺與物鏡間之最大距離：80mm
測量工作臺直徑：120mm
| 序 號 | 名稱 | 單位 | 數量 |
| 1 | 主機 | 臺 | 1 |
| 2 | 物鏡2.5× | 只 | 1 |
| 3 | 物鏡10× | 只 | 1 |
| 4 | 產品使用說明書 | 份 | 1 |
| 5 | 產品合格證明 | 份 | 1 |
| 6 | 產品保修卡 | 份 | 1 |
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